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El fabricante/desarrollador QWED, se refiere a la compatibilidad del SPDR con los Analizadores de Red de Keysight / Agilent Technologies y con Resonant Cavity Software como se detalla en:
Resumen técnico: Software de medición de materiales Keysight N1500A. El resumen está disponible: http://literature.cdn.keysight.com/litweb/pdf/5989-5384EN.pdf?id=838432
La conferencia escrita por el experto prof. de QWED. Jerzy Krupka disponible en versión PDF: http://www.qwed.eu/IMS2004_JK_Substrates.pdf
Nota: Los precios cotizados incluyen los resonadores y el software que convierte los resultados directos de las mediciones de frecuencia y factor Q en la permitividad compleja de las muestras medidas. Hay varias formas de aplicar el software.
Cargar los resultados de las mediciones desde cualquier Analizador de Red en un PC y ejecutar el software QWED en el PC para obtener los resultados de permitividad compleja.
Los usuarios que tienen el software Keysight N1500A con la opción 003 / Agilent 85071E con la opción 300, pueden añadir las librerías QWED al software Keysight / Agilent. Los resultados se mostrarán directamente en la pantalla del Analizador de Red
Utilizar la suite de materiales de medida (MMS) para eliminar la transferencia manual de datos de VNA al PC: los resultados se mostrarán en la pantalla del PC.
También es posible utilizar Q-Meter, dispositivo portátil de bajo coste QWED, utilizado para realizar funciones de Analizador de Red.
El procedimiento operativo estándar está disponible en el repositorio de acceso abierto de Zenodo: https://zenodo.org/record/2673793#.XULptvIzZ0y
SPDR conforme a IEC 61189-2-721 estándar (Edición 1. 2015-04)
Aplicación: los SPDR están destinados a medir la permitividad compleja de materiales dieléctricos laminares, incluidos sustratos LTCC, pero también películas ferroeléctricas delgadas depositadas en sustratos dieléctricos de baja pérdida. Además, los SPDR se pueden usar para medir la resistencia superficial y la conductividad de diversos materiales conductores, como capas resistivas comerciales, películas delgadas de polímero conductor o semiconductores de alta resistividad. Dichas mediciones solo son posibles para muestras de gran resistencia superficial con Rs > 5 kΩ/cuadrado.
Precisión de las mediciones de una muestra de espesor h:
Δε/ε=±(0.0015 + Δh/h)
Δtanδ= ±2*10-5 o ±0,03*tanδ, el que sea mayor
Rango de frecuencia operativa: SPDR utiliza un modo resonante particular. Este modo tiene una frecuencia de resonancia particular que depende de las dimensiones del resonador pero también, hasta cierto punto, de las propiedades eléctricas de la muestra medida. Así, cada resonador está diseñado para una frecuencia nominal particular y la medida real se toma a una frecuencia cercana a la nominal. Las frecuencias nominales de la línea básica de SPDR son: 1,1 GHz, 2,45 GHz, 5 GHz, 10 GHz y 15 GHz. Los resonadores para las otras frecuencias en el rango entre 1,1 y 15 GHz se pueden fabricar bajo pedido especial.
Rango de temperatura de funcionamiento: -270C a +110C
Equipo adicional necesario para realizar la medición: Microondas Q-Meter o Vector Network Analyzer
Procedimiento de medición: Se miden la frecuencia de resonancia y el factor Q del resonador vacío y del resonador con muestra investigada. Se proporciona un software dedicado para la determinación de la tangente de pérdida dieléctrica y permitividad. Los usuarios que tienen acceso a uno de los analizadores de redes de la serie PNA/ENA de Agilent Technologies equipados con el software de medición de materiales 85071E con la opción 300 simplemente cargan la aplicación dedicada de QWED en el analizador de redes y obtienen los resultados finales directamente en su pantalla. Los usuarios que trabajan con diferentes analizadores de redes deben instalar el software para el cálculo de propiedades dieléctricas en una computadora PC estándar o analizador de redes si está equipado con el sistema operativo Windows®.
Información adicional: El tamaño mínimo de una muestra depende de la frecuencia de operación del resonador. Los tamaños mínimos de muestra para las frecuencias operativas de resonador más populares son:
Frecuencia nominal [GHz]: 1,1
Tamaños mínimos/diámetro de muestra (dmin) [mm]: 120x120 / 120
Ancho máximo de muestra (dmax ) [mm]*^: 165
Tamaños de muestra recomendados (drec) [mm]**: 165
Espesor máximo de muestra [mm]: 6,0
Frecuencia nominal [GHz]: 2,45 / 2,5
• Tamaños mínimos/diámetro de muestra (dmin) [mm]: 55x55 / 55
Ancho máximo de muestra (dmax) [mm]*^: 100
Tamaños de muestra recomendados (drec) [mm]**: 85
Espesor máximo de muestra [mm]: 3,1
Frecuencia nominal [GHz]: 5 / 5,1
Tamaños mínimos/diámetro de muestra (dmin) [mm]: 30x30 / 30
Ancho máximo de muestra (dmax) [mm]*^: 90
Tamaños de muestra recomendados (drec) [mm]**: 65
Espesor máximo de muestra [mm]: 1,95
Frecuencia nominal [GHz]: 10
• Tamaños mínimos/diámetro de muestra (dmin) [mm]: 22x22 / 22
Ancho máximo de muestra (dmax) [mm]*^: 90
Tamaños de muestra recomendados (drec) [mm]**: 45
Espesor máximo de muestra [mm]: 0,95
Frecuencia nominal [GHz]: 15
Tamaños mínimos/diámetro de muestra (dmin) [mm]: 14x14 / 14
Ancho máximo de muestra (dmax ) [mm]*^: 40
Tamaños de muestra recomendados (drec) [mm]**: 35
Espesor máximo de muestra [mm]: 0,6
* Limitación para diámetro de muestras circulares. Para muestras rectangulares, la limitación se relaciona solo con una dimensión de la muestra (la otra dimensión puede ser mayor).
** Para facilitar el manejo de la muestra, se recomienda que el diámetro d de la muestra circular sea drec ^ Para tamaños de muestra no estándar, comuníquese con el equipo de QWED.
