Épuisé. Nous pouvons vous informer quand il sera disponible.
Le fabricant/développeur QWED, fait référence à la compatibilité du SPDR avec les analyseurs de réseau Keysight / Agilent Technologies et avec le logiciel Resonant Cavity comme détaillé dans :
Fiche technique : Logiciel de mesure de matériaux Keysight N1500A. Le résumé est disponible : http://literature.cdn.keysight.com/litweb/pdf/5989-5384EN.pdf?id=838432
La conférence rédigée par l'expert prof. de QWED. Jerzy Krupka disponible en version PDF : http://www.qwed.eu/IMS2004_JK_Substrates.pdf
Remarque : Les prix indiqués incluent les résonateurs et le logiciel qui convertit les résultats en résultats directs le facteur Q et les mesures de fréquence sur la permittivité complexe des échantillons mesurés. Il existe plusieurs façons d'appliquer le logiciel.
Téléchargez les résultats de mesure de n'importe quel analyseur de réseau vers un PC et exécutez le logiciel QWED sur le PC pour obtenir les résultats de permittivité complexes.
Utilisateurs qui ont le logiciel Keysight N1500A avec l'option 003 / Agilent 85071E avec l'option 300, vous pouvez ajouter les bibliothèques QWED au logiciel Keysight / Agilent. Les résultats seront affichés directement sur l'écran de l'analyseur de réseau
Utilisez la suite MMS pour éliminer le transfert manuel de données du VNA vers le PC : les résultats seront affichés sur l'écran du PC.
Il est également possible d'utiliser Q-Meter, un appareil portable QWED à faible coût, utilisé pour exécuter les fonctions de l'analyseur de réseau.
La procédure d'exploitation standard est disponible dans le référentiel en libre accès de Zenodo : https://zenodo.org/record/2673793 #.XULptvIzZ0y
SPDR conforme à Norme CEI 61189-2-721 (Édition 1. 2015-04)
Application : Les SPDR sont destinés aux mesures de la permittivité complexe des matériaux diélectriques laminaires dont les substrats LTCC, mais aussi des films ferroélectriques minces déposés sur des substrats diélectriques à faibles pertes. De plus, les SPDR peuvent être utilisés pour les mesures de la résistance de surface et de la conductivité de divers matériaux conducteurs tels que les couches résistives commerciales, les films polymères conducteurs minces ou les semi-conducteurs à haute résistivité. De telles mesures ne sont possibles que pour de grands échantillons de résistance de surface avec Rs > 5 kΩ/carré.
Précision des mesures d'un échantillon d'épaisseur h :
Δε/ε=±(0,0015 + Δh/h)
Δtanδ= ±2*10-5 ou ±0,03*tanδ selon la valeur la plus élevée
Plage de fréquences de fonctionnement : le SPDR utilise un mode de résonance particulier. Ce mode a une fréquence de résonance particulière qui dépend des dimensions du résonateur mais aussi, dans une certaine mesure, des propriétés électriques de l'échantillon mesuré. Ainsi, chaque résonateur est conçu pour une fréquence nominale particulière et la mesure réelle est effectuée à une fréquence proche de la fréquence nominale. Les fréquences nominales de la ligne de base des SPDR sont : 1,1 GHz, 2,45 GHz, 5 GHz, 10 GHz et 15 GHz. Des résonateurs pour les autres fréquences comprises entre 1,1 et 15 GHz peuvent être fabriqués sur demande spéciale.
Plage de température de fonctionnement : -270 C à +110 C
Équipement supplémentaire nécessaire pour effectuer la mesure : micro-onde Q-mètre ou analyseur de réseau vectoriel
Procédure de mesure : La fréquence de résonance et le facteur Q du résonateur vide et du résonateur avec l'échantillon étudié sont mesurés. Un logiciel dédié est fourni pour la détermination de la permittivité et de la tangente de perte diélectrique. Les utilisateurs qui ont accès à l'un des analyseurs de réseau de la série PNA/ENA d'Agilent Technologies équipés du logiciel de mesure de matériaux 85071E avec l'option 300 téléchargent simplement l'application dédiée du QWED dans l'analyseur de réseau et obtiennent les résultats finaux directement sur son écran. Les utilisateurs travaillant avec différents analyseurs de réseau doivent installer le logiciel de calcul des propriétés diélectriques sur un ordinateur PC standard ou sur un analyseur de réseau s'il est équipé du système d'exploitation Windows®.
Informations complémentaires : La taille minimale d'un échantillon dépend de la fréquence de fonctionnement du résonateur. Les tailles minimales d'échantillons pour les fréquences de fonctionnement des résonateurs les plus courantes sont :
Fréquence nominale [GHz] : 1,1
Tailles minimales/diamètre de l'échantillon (dmin) [mm] : 120 x 120 / 120
•• Largeur maximale de l'échantillon (dmax ) [mm]*^ : 165
Tailles d'échantillon recommandées (drec) [mm]** : 165
Épaisseur maximale de l'échantillon [mm] : 6,0
Fréquence nominale [GHz] : 2,45 / 2,5
• Tailles minimales/diamètre de l'échantillon (dmin) [mm] : 55x55 / 55
Largeur maximale de l'échantillon (dmax) [mm]*^ : 100
Tailles recommandées de l'échantillon (drec) [mm]** : 85
Épaisseur maximale de l'échantillon [mm] : 3,1
Fréquence nominale [GHz] : 5 / 5,1
Tailles minimales/diamètre de l'échantillon (dmin) [mm] : 30x30 / 30
Largeur maximale de l'échantillon (dmax) [mm]*^ : 90
Tailles d'échantillon recommandées (drec) [mm]** : 65
Épaisseur maximale de l'échantillon [mm] : 1,95
Fréquence nominale [GHz] : 10
• Tailles minimales/diamètre de l'échantillon (dmin) [mm] : 22x22 / 22
Largeur maximale de l'échantillon (dmax) [mm]*^ : 90
Tailles recommandées de l'échantillon (drec) [mm]** : 45
Épaisseur maximale de l'échantillon [mm] : 0,95
Fréquence nominale [GHz] : 15
Tailles/diamètre minimal de l'échantillon (dmin) [mm] : 14x14 / 14
Largeur maximale de l'échantillon (dmax ) [mm]*^ : 40
Tailles d'échantillon recommandées (drec) [mm]** : 35
Épaisseur maximale de l'échantillon [mm] : 0,6.
* Limitation du diamètre des échantillons circulaires. Pour les échantillons rectangulaires, la limitation ne concerne qu'une seule dimension de l'échantillon (l'autre dimension peut être plus grande).
** Pour faciliter la manipulation des échantillons, il est recommandé que le diamètre d de l'échantillon circulaire soit drec ^ Pour les tailles d'échantillons non standard, contactez l'équipe QWED.
