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O fabricante/desenvolvedor QWED refere-se à compatibilidade do SPDR com Keysight / Agilent Technologies Network Analyzers e com Resonant Cavity Software conforme detalhado em:
Resumo técnico: Software de medição de material Keysight N1500A. O resumo está disponível: http://literature.cdn.keysight.com/litweb/pdf/5989-5384EN.pdf?id=838432
A palestra escrita pelo especialista prof. de QWED. Jerzy Krupka disponível em versão PDF: http://www.qwed.eu/IMS2004_JK_Substrates.pdf
Nota: Os preços indicados incluem ressonadores e software que converte os resultados diretos de o fator Q e medições de frequência na permissividade complexa das amostras medidas. Existem várias maneiras de aplicar o software.
Carregue os resultados da medição de qualquer analisador de rede para um PC e execute o software QWED no PC para obter os resultados de permissividade complexos.
Usuários que possuem o software Keysight N1500A com opção 003 / Agilent 85071E com a opção 300, você pode adicionar as bibliotecas QWED ao software Keysight/Agilent. Os resultados serão exibidos diretamente na tela do Network Analyzer
Use o pacote MMS para eliminar a transferência manual de dados do VNA para o PC: os resultados serão exibidos na tela do PC.
Também é possível usar o Q-Meter, um dispositivo portátil QWED de baixo custo, usado para executar funções do Network Analyzer.
O procedimento operacional padrão está disponível no repositório de acesso aberto do Zenodo: https://zenodo.org/record/2673793 #.XULptvIzZ0y
SPDR em conformidade com Norma IEC 61189-2-721 (Edição 1. 2015-04)
Aplicação: SPDRs destinam-se a medições da permissividade complexa de materiais dielétricos laminares, incluindo substratos LTCC, mas também filmes ferroelétricos finos depositados em substratos dielétricos de baixa perda. Além disso, os SPDRs podem ser usados para medições de resistência de superfície e condutividade de vários materiais condutores, como camadas resistivas comerciais, filmes finos de polímeros condutores ou semicondutores de alta resistividade. Tais medições só são possíveis para grandes amostras de resistência de superfície com Rs > 5 kΩ/quadrado.
Precisão das medições de uma amostra de espessura h:
Δε/ε=±(0,0015 + Δh/h)
Δtanδ= ±2*10-5 ou ±0,03*tanδ, o que for maior
Faixa de frequência operacional: SPDR usa um modo ressonante específico. Este modo tem uma frequência ressonante particular, dependendo das dimensões do ressonador, mas também, até certo ponto, das propriedades elétricas da amostra medida. Assim, cada ressonador é projetado para uma determinada frequência nominal e a medição real é feita em uma frequência próxima à nominal. As frequências nominais da linha básica de SPDRs são: 1,1 GHz, 2,45 GHz, 5 GHz, 10 GHz e 15 GHz. Ressonadores para as outras frequências na faixa entre 1,1 e 15 GHz podem ser fabricados mediante solicitação especial.
Faixa de temperatura operacional: -270C a +110C
Equipamento adicional necessário para realizar a medição: Q-Meter de micro-ondas ou analisador de rede vetorial
Procedimento de medição: A frequência ressonante e o fator Q do ressonador vazio e do ressonador com amostra investigada são medidos. Software dedicado é fornecido para determinação de permissividade e tangente de perda dielétrica. Os usuários que têm acesso a um dos analisadores de rede da série PNA/ENA da Agilent Technologies equipados com o software de medição de material 85071E com opção 300 simplesmente carregam o aplicativo dedicado do QWED no analisador de rede e obtêm os resultados finais diretamente em sua tela. Os usuários que trabalham com diferentes analisadores de rede precisam instalar o software para cálculo de propriedades dielétricas em um computador PC padrão ou analisador de rede se equipado com sistema operacional Windows®.
Informações adicionais: O tamanho mínimo de uma amostra depende da frequência de operação do ressonador. Os tamanhos mínimos de amostra para as frequências de operação do ressonador mais populares são:
Frequência nominal [GHz]: 1,1
Tamanhos mínimos/diâmetro da amostra (dmin) [mm]: 120x120 / 120
Largura máxima da amostra (dmax ) [mm]*^: 165
Tamanhos de amostra recomendados (drec) [mm]**: 165
Espessura máxima da amostra [mm]: 6,0
Frequência nominal [GHz]: 2,45 / 2,5
• Tamanhos/diâmetros mínimos da amostra (dmin) [mm]: 55x55 / 55
Largura máxima da amostra (dmax) [mm]*^: 100
Tamanhos recomendados da amostra (drec) [mm]**: 85
Espessura máxima da amostra [mm]: 3,1
Frequência nominal [GHz]: 5 / 5,1
Tamanhos mínimos/diâmetro da amostra (dmin) [mm]: 30x30 / 30
Largura máxima da amostra (dmax) [mm]*^: 90
Tamanhos de amostra recomendados (drec) [mm]**: 65
Espessura máxima da amostra [mm]: 1,95
Frequência nominal [GHz]: 10
• Tamanhos/diâmetros mínimos da amostra (dmin) [mm]: 22x22 / 22
Largura máxima da amostra (dmax) [mm]*^: 90
Tamanhos recomendados da amostra (drec) [mm]**: 45
Espessura máxima da amostra [mm]: 0,95
Frequência nominal [GHz]: 15
Tamanhos mínimos/diâmetro da amostra (dmin) [mm]: 14x14 / 14
Largura máxima da amostra (dmax ) [mm]*^: 40
Tamanhos de amostra recomendados (drec) [mm]**: 35
Espessura máxima da amostra [mm]: 0,6
* Limitação para diâmetro de amostras circulares. Para amostras retangulares, a limitação refere-se apenas a uma dimensão da amostra (a outra dimensão pode ser maior).
** Para facilitar o manuseio da amostra, recomenda-se que o diâmetro d da amostra circular seja drec ^ Para tamanhos de amostra fora do padrão, entre em contato com a equipe QWED.
